走査型電子顕微鏡
| 分類 | 0403:電磁気分析装置 |
| メーカー | 日本電子（株） |
| 型式 | JSM-6610LA |
| 概要・用途 | 金属、セラミックス、鉱物、高分子材料等の拡大観察および電子線微小部分析 |
| 仕様 | 最大加速電圧 30kV 高真空モード、低真空モード 2次電子像、反射電子像 取得可能 EDSによる元素分析、マッピング、ライン分析可 画像はJPEG等で保存可能 |
| 料金 | 最初の1時間 9,540円 2時間目以降 2,360円 |
| 所有機関 |
産業技術環境研究本部工業試験場 〒060-0819 札幌市北区北１９条西１１丁目 電話：011-747-2321 ファックス：011-726-4057 http://www.hro.or.jp/list/industrial/research/iri/gijyutu/setsubi/index.html |
| 設置場所 | |
| 関連依頼試験 |