Ｘ線光電子分光分析装置
| 分類 | 0402:光分析装置 |
| メーカー | 島津/KRATOS製 |
| 型式 | AXIS-His |
| 概要・用途 | 極表面の元素分析や各種材料等の表面分析を行う |
| 仕様 | X線源：Mg KαおよびAl Kα（単色化） 測定元素：Li～U 最小分析径：約30μm その他：帯電中和機構あり |
| 料金 | 最初の1時間 11,070円 2時間目以降 2,240円 |
| 所有機関 |
産業技術環境研究本部工業試験場 〒060-0819 札幌市北区北１９条西１１丁目 電話：011-747-2321 ファックス：011-726-4057 http://www.hro.or.jp/list/industrial/research/iri/gijyutu/setsubi/index.html |
| 設置場所 | |
| 関連依頼試験 |