電界放出形走査電子顕微鏡
| 分類 | 0403:電磁気分析装置 |
| メーカー | 日本電子(株) |
| 型式 | JSM-7001F |
| 概要・用途 | 金属、セラミックス、高分子試料等の超微細構造の解析や表面分析を行う。 |
| 仕様 | 電子銃：インレンズサーマル FEG式 加速電圧：0.5～30kV 倍率：×10～80,000倍 低加速電圧時でも効率よく電流が得られる為、0.1μｍ～0.2μｍ領域の微小領域の元素分析が可能 |
| 料金 | 最初の1時間 10,950円 2時間目以降 3,770円 |
| 所有機関 |
産業技術環境研究本部工業試験場 〒060-0819 札幌市北区北１９条西１１丁目 電話：011-747-2321 ファックス：011-726-4057 http://www.hro.or.jp/list/industrial/research/iri/gijyutu/setsubi/index.html |
| 設置場所 | |
| 関連依頼試験 |