走査プローブ顕微鏡
| 分類 | 0403:電磁気分析装置 |
| メーカー | (株)日立ハイテクサイエンス |
| 型式 | E-Sweep、L-traceⅡ、NanoNaviⅡ |
| 概要・用途 | 試料表面の凹凸の形状観察と、その摩擦力や粘弾性等の物性分布の測定を行う |
| 仕様 | 大型試料部 主な機能：形状像、摩擦像、試料サイズ：150mmφ厚さ22mm、(全面測定可能) 環境制御部 主な機能：形状像、摩擦像、粘弾性力像、液中および真空下での測定、試料 サイズ：25mmφ厚さ10mm、（中央部4mm角） ソフトウェア ビギナーズモード、3次元表示機能、画像重ね合わせ機能、表面粗さ解析、断面解析等 |
| 料金 | 最初の1時間 8,640円 2時間目以降 2,290円 |
| 所有機関 |
産業技術環境研究本部工業試験場 〒060-0819 札幌市北区北１９条西１１丁目 電話：011-747-2321 ファックス：011-726-4057 http://www.hro.or.jp/list/industrial/research/iri/gijyutu/setsubi/index.html |
| 設置場所 | |
| 関連依頼試験 |