検索結果一覧
検索条件：0403:電磁気分析装置
結果件数：13 件
結果件数：13 件
|
ＥＭＩ測定装置（電波暗室用）
|
→詳細を見る | |
|---|---|---|
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部工業試験場 |
|
|
寒冷地ものづくりラボの電波暗室において、各種国内外規格に基づき放射ＥＭＩ測定試験、伝導雑音測定試験を行う。 周波数レンジ 20Hz～26.5GHz タイムドメインスキャン機能あり ＶＣＣＩ３２、ＣＩＳＰＲ２５対応 プリアンプ内蔵ギガヘルツ帯対応高感度アンテナ 6～18GHz 最初の1時間 6,320円 2時間目以降 2,450円 |
||
|
電子線プローブ分析装置
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部工業試験場 |
|
|
金属その他試料の高精度な微小部分析及び解析 分析元素範囲：B-U X線分光素子：TAP,PET,PETH,LIF,LIFH,LDE2 電子銃：Wフィラメント 最大試料寸法：100×100×50㎜（H） 分析領域：90×90㎜ 走査倍率：40～30万倍：（WD 11㎜） 二次電子像分解能：6nm 反射電子像：凹凸像、組成像 アプリケーション：定性分析、定量分析、線分析、面分析、粒子解析、状態分析、自動分析、複合マップ分析 自動分析、複合マップ分析 最初の1時間 9,210円 2時間目以降 1,210円 |
||
|
RFアナライザ
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部工業試験場 |
|
|
屋外や機器設置現場における電磁ノイズ計測 アンテナ入力特性評価 高周波ケーブル断線箇所確認 UAV飛行前の環境ノイズ・電波到達確認、など ・スペクトルアナライザ機能 ： 100kHz～9GHz ・ネットワークアナライザ機能 ： 30kHz～9GHz ・コネクタ ： N型2ポート ・その他の測定機能 ： TDRケーブル測定、電力測定(DC～18GHz） ・バッテリ駆動、防水防塵（IP53） 最初の1時間 5,700円 2時間目以降 1,000円 |
||
|
電波暗室
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部工業試験場 |
|
|
各種国内外規格に基づきＥＭＣ試験を行う。 ＣＩＳＰＲ１６－１－４対応 ３ｍ電波暗室 シールドパネル組み立て工法 室内寸法 １０．４ｍ×５．７ｍ×７．０ｍ ターンテーブル 直径２ｍ、耐荷重５００ｋｇ VCCI32 EMI試験対応 IEC-61000-4-3 放射イミュニティ試験対応 最初の1時間 11,420円 2時間目以降 7,130円 |
||
|
ＥＭＩ測定装置（シールドルーム用）
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部工業試験場 |
|
|
シールドルームにおけるEMC測定 測定上限周波数8.4GHz 最初の1時間 6,780円 2時間目以降 4,550円 |
||
|
マルチセンサ式3次元測定機
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部工業試験場 |
|
|
測定範囲 ：X800㎜、Y600㎜、Z300㎜ 測定物最大重量 ：100㎏（ガラスステージは20㎏まで） 測定精度（誤差） ：接 触：2.2+L/150μm （Ｌ=測定長さ） 非接触：XY方向 2.0+L/150μm Z方向 3.2+L/150μm 最初の1時間： 4,920 円 2時間目以降 3,520 円/時間 |
||
|
走査型電子顕微鏡
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部工業試験場 |
|
|
金属、セラミックス、鉱物、高分子材料等の拡大観察および電子線微小部分析 最大加速電圧 30kV 高真空モード、低真空モード 2次電子像、反射電子像 取得可能 EDSによる元素分析、マッピング、ライン分析可 画像はJPEG等で保存可能 最初の1時間 9,540円 2時間目以降 2,360円 |
||
|
Ｘ線回折装置
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部工業試験場 |
|
|
金属、セラミックス、鉱物、廃棄物等における粉末、バルク試料の結晶相及び結晶構造の解析を行う Ｘ線発生装置出力：3.0kW 試料水平型 集中法と平行ビーム法の切替可能光学系 試料微小部の測定に対応 高温で測定可能 最初の1時間 9,950円 2時間目以降 4,430円 |
||
|
電界放出形走査電子顕微鏡
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部工業試験場 |
|
|
金属、セラミックス、高分子試料等の超微細構造の解析や表面分析を行う。 電子銃：インレンズサーマル FEG式 加速電圧：0.5～30kV 倍率：×10～80,000倍 低加速電圧時でも効率よく電流が得られる為、0.1μｍ～0.2μｍ領域の微小領域の元素分析が可能 最初の1時間 10,950円 2時間目以降 3,770円 |
||
|
走査プローブ顕微鏡
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部工業試験場 |
|
|
試料表面の凹凸の形状観察と、その摩擦力や粘弾性等の物性分布の測定を行う 大型試料部 主な機能：形状像、摩擦像、試料サイズ：150mmφ厚さ22mm、(全面測定可能) 環境制御部 主な機能：形状像、摩擦像、粘弾性力像、液中および真空下での測定、試料 サイズ：25mmφ厚さ10mm、（中央部4mm角） ソフトウェア ビギナーズモード、3次元表示機能、画像重ね合わせ機能、表面粗さ解析、断面解析等 最初の1時間 8,640円 2時間目以降 2,290円 |
||
|
ハンドヘルド蛍光Ｘ線分析装置
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部工業試験場 |
|
|
金属材料・金属製品表面の化学成分分析 検 出 窓 長径16mmのだ円 検出可能元素 ナトリウム（Na)～ウラン（U） 重 量 1.9 kg 動作環境 -10℃～50℃ 最初の1時間 7,790 円 2時間目以降 3,500円 |
||
|
ガスクロマトグラフ質量分析計
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部食品加工研究センター |
|
|
食品の揮発性機能性成分の分析・同定 におい成分の分析・同定 脂肪酸組成分析 スニッフィングによるオルファクトグラム分析 イオン源・イオン化法：EI、CI、NCL 分析検出部 質量範囲：m/z 1.5～1090 マスフィルター：プロッド付き高精度四重極 SIMモード：64チャンネル×128グループ 分解能： R≧2M(FWHM) MSインターフェース：50～350℃ 検出器ユニット：二次電子増倍管(-10kVコンバージョンダイノード、オーバードライブレンズ付き) 検出器：Active Film Multiplier ダイナミックレンジ：80×106(electrical) 最初の1時間 8,200円 2時間目以降 770円 |
||
|
蛍光X線分析装置
|
→詳細を見る | |
| 0403:電磁気分析装置 | 産業技術環境研究本部エネルギー・環境・地質研究所 |
|
|
金属、セラミックス、高分子試料等において高濃度(%)から低濃度(ppm)までの範囲で定性分析及び定量分析を行う X線管：薄窓エンドウィンド型Rh 4kW 測定元素：ほう素からウランまで 微小部測定およびマッピング測定可能（分解能：100μm） 最大48個の試料交換機内蔵 試料寸法：最大φ51mm×30mm ファンダメンタルパラメータ法による半定量分析可能 最初の1時間 9,720円 2時間目以降 4,190円 |
||
